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 PTQ-8晶体管综合快速筛选台具有对半导体器件常温测试，
高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数VBE、ICEO（或ICBO）和hFE ,及其在加功率前后的变化量、变化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件，改善产品批的质量和可靠性的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。该快速筛选方法不仅能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，而且更加科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标GJB128A—97。
PTQ—8晶体管综合快速筛选台已在原快速筛选仪器上作了大大改进，不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有足够的测试量程和精度，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间，具有自动保护能力。
● 主要功能
■ 可取代直流满功率老炼，每只器件老炼筛选过程（含测试）只需5秒。
■ 能测试筛选PNP、NPN大、中、小功率三极管。中文菜单式界面，操作简便。
■ 能一次性自动测试、筛选VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BRCBO、V（BR）EBO、VCES、VBES的常温、高温值及常温、高温值变化量或变化率。并能任意选测全部或部分参数；若只选测常温参数，每只器件只需1秒多。hFE1、hFE2 可以自动分10档。
■ 可任意设定器件型号、测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修改、调用。
■ 测试结果在大屏幕液晶显示器（122×92mm）上同时显示，并标识累计测试总量；超标器件自动声光报警，并在液晶屏上显示告警信息。
■ 每项参数的测试结果通过统计可获得最大值、最小值、平均值。
■ 器件型号、测试时间、测试条件、失效判据、检测结果及器件编号，可通过打印机打印输出，或通过电脑串行口保存在电脑中。超标器件自动标识。
■ 测试时只需选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测器件自动识别。
● 主要技术指标
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参数名称 |
测试范围 |
测试条件 |
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VBE、VBC |
0.1V～1V |
1mA～1A |
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hFE1、hFE2 |
5～500倍（可定制测达林顿管） |
VCE：1V～25V，IC：1mA～6A |
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ICEO、ICBO 、IEBO |
0.1uA～10mA |
10V～1000V(VEB：1V～100V) |
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V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO |
10V～1000V(V(BR)EBO：5V～100V) |
50uA～10mA |
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VCES、VBES |
0.1V～3V |
IC：10mA～6A， IB：1mA～1A |
加温PCM范围：VCE：5V～25VIC：0.1A～6A加温时间T：0～10S
杭州精源电子仪器有限公司联系电话：0571—82795250
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